ヒューズ試験:熱衝撃・温度衝撃試験(Thermal Shock Test)

概要

試験の目的

・急激な温度変化によるヒューズ端子・素子・ケースの影響を評価する。     
・熱応力による接触不良や絶縁破壊の発生リスクを確認する。
・車載環境での過酷条件下における長期信頼性の保証。

「ヒューズの写真:電流が規定値を超えると内部の導体が溶断して回路を遮断する、過電流保護用の電子部品。」

試験方法

1,ヒューズを温度制御チャンバーに設置し、高温側と低温側のチャンバー間で迅速に移動させるサイクルを繰り返す。
2,サイクル開始・終了後に導通状態、接触抵抗、絶縁抵抗などを測定。
3,外観検査を行い、端子の変形、素子のひび割れ、ケースの損傷がないか確認する。

サーマルショック試験のイメージ:コネクタや電子部品を高温槽と低温槽で急速に移動させ、温度変化による性能や外観の影響を確認している様子。

対応する代表的な規格

規格番号規格名称
ISO 8820自動車用電気ヒューズの安全規格
JASO D610車載用ヒューズの性能試験

試験条件例

・温度範囲:−40℃~+125℃(規格または仕様に準拠)
・サイクル数:10~50サイクル(仕様により設定)
・温度変化速度:20~30℃/分
・測定箇所:端子、素子、ケース

comqudaの強み

・30年以上の経験に基づく柔軟な試験提案
・標準規格準拠からカスタム条件まで対応
・不具合解析・コンサルティングも一体で提供可能
・他社試験機関のハンドリングも対応し、面倒な作業ごともワンストップでサポート

よくある質問(FAQ)

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