車載コネクタの信頼性評価：活線挿抜試験
最終更新日：2026年1月13日
概要
活線挿抜試験とは、通電状態（電圧・電流印加中）でコネクタを嵌合・離脱させた際の接触部の損傷や異常発熱、アーク発生を評価する試験です。
主に高電圧・高電流回路を扱うEV、HEV、PHEVの電源系コネクタで重要視されます。
通常の嵌合では無負荷状態で行われますが、活線状態では瞬間的に電流が流れるため、接点のアーク放電・溶融・溶着といった不具合が発生する可能性があります。
この試験により、電気的安全性と接触部の耐久性を確認します。
試験の目的
・通電中の嵌合・離脱によるアーク発生有無の確認
・接触部の損傷、溶着、焼損などの評価
・繰り返し嵌合による劣化特性の把握
・EV高電圧ラインにおける安全設計妥当性の検証
試験方法の例
1,試験回路の構成
- 直流電源（DC50V〜800V程度）または模擬負荷回路を接続
- コネクタの一方に通電し、他方を嵌合または離脱操作
2,試験条件設定
- 電圧、電流、負荷インダクタンスを規定
- 嵌合・離脱速度を一定に制御
3,測定内容
- アーク発生の有無、波形記録（電圧・電流波形）
- 試験後の接触部外観観察（溶融・変色・酸化）
- 抵抗変化・温度上昇などの性能確認
comqudaの特徴
・試験後の電気特性（抵抗変動モニタ、瞬断測定等）通電試験を一括受託試験対応
・負荷後にそのまま電気特性評価が可能（一貫受託評価・ワンストップ受託試験・委託試験体制）
よくある質問(FAQ)
繰り返し試験は可能ですか？
はい。複数回の嵌合・離脱による接点摩耗や抵抗変化を評価できます。
温度上昇試験と併用できますか？
可能です。通電試験と温度測定を組み合わせることで、アーク熱の影響を定量化できます。
試験中のアークはどのように観察しますか？
高速カメラやオシロスコープ波形で観察し、放電時間・電圧ピークを解析します。
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