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端子圧着部評価:高温放置試験

最終更新日:2026年1月13日

概要

試験の目的

・圧着部の金属酸化や応力緩和による導通劣化の確認
・絶縁被覆やシール部の熱収縮・硬化・ひび割れの有無を確認          
・材料(端子材質・電線・めっきなど)の耐熱限界の把握
・高温環境下での長期信頼性の予測

高温・低温放置試験のイメージ:コネクタや電子部品を恒温槽内で高温または低温に長時間さらし、耐熱性・耐寒性や外観変化を評価している様子。

試験方法

試験片を恒温槽内に一定期間保持し、外力や通電を加えずに放置します。
放置後に外観観察・導通抵抗測定・引張試験などを行い、劣化の有無を確認します。

項目一般的な条件例
試験温度100℃、125℃、150℃など(仕様・規格に準拠)
試験時間240時間、500時間、1000時間など
雰囲気空気雰囲気中
通電無通電状態

対応する代表的な規格

規格番号規格名称
USCAR-21北米自動車産業向けコネクタ規格
各自動車メーカー規格(OEM規格)、Tier1独自規格

comqudaの特徴

・高温・低温保持後に直ちに電気特性評価が可能(ワンストップ受託試験・委託試験)
・長期加速評価やOEM規格カスタム条件にも柔軟対応
・不具合解析サポート

よくある質問(FAQ)

FAQ対応スタッフ

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